Một nghiên cứu mới đăng trên tạp chí Y học sinh sản hàng đầu châu Âu, Human Reproduction, cho thấy thụ tinh trong ống nghiệm (IVF/ICSI)  không làm tăng nguy cơ bại não cho trẻ.

Nghiên cứu được thực hiện bởi tiến sĩ Jin Liang Zhu, nhà dịch tễ học tại đại học Asrhus, Đan Mạch. Nghiên cứu này nhằm đánh giá mối liên quan giữa thời gian thụ thai và nguy cơ bại não ở trẻ. So sánh những trẻ sinh ra từ 0-2 tháng mong con với các trẻ sinh ra từ 3-5 tháng, 6-12 tháng và hơn 12 tháng mong con, khảo sát cả những cặp vợ chồng làm TTTON, kích thích buồng trứng quan hệ tự nhiên hay bơm tinh trùng và thai ngoài ý muốn. Những cặp vợ chồng mong con từ 1 năm trở lên được gọi là hiếm muộn. Sau khi điều chỉnh các yếu tố có thể ảnh hưởng lên sức khỏe của trẻ như tuổi mẹ, bà mẹ có hút thuốc lá hay không, trình độ học vấn, giới tính của trẻ, sinh non hay đủ tháng, đa thai (sinh đôi, sinh ba…), các nhà nghiên cứu không thấy mối liên quan giữa thời gian thụ thai và nguy cơ bại não ở trẻ sinh tự nhiên. Kết quả nghiên cứu cho thấy những trẻ sinh ra từ những cặp vợ chồng hiếm muộn TTTON nguy cơ bại não không cao hơn những trẻ sinh tự nhiên.

Những nhà nghiên cứu thấy rằng sau khi điều chỉnh những yếu tố liên quan đến sinh non và đa thai (thường gặp trong điều trị vô sinh), những trẻ TTTON có nguy cơ bại não cao gấp đôi trẻ sinh tự nhiên trong nhóm trẻ thụ thai chỉ sau 2 tháng mong con. Khi so với những trẻ mà cha mẹ hiếm muộn, nguy cơ này không tăng.

Nghiên cứu này cho thấy TTTON không làm tăng nguy cơ bại não ở trẻ dù trước đây có ý kiến cho rằng TTTON làm tăng nguy cơ này do sinh non, đa thai.

Nguồn : Human Reproduction, Vol.25, No.12 pp. 3142–3145, 2010

BS Huỳnh Thị Mai Thanh